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Equotip 550 (platform only) 高度稳健和先进的测量系统

硬度测试

Equotip 550 (platform only)

高度稳健和先进的测量系统

  • 瑞士品质、准确性和可靠性与强大的软件功能相结合
  • 广泛的探头和转换表选择
  • 完全坚固的外壳和经久耐用的探头

应用:

铸件、法兰、轴和棒材/管材的硬度测试 / 近线质量控制 / 热处理表面

源于里氏硬度测试发明者的高精确度、耐用性和功能性
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可靠性
探头和冲击体的使用寿命长,比市场上其他产品的使用寿命长四倍。
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高效率
配备最完整的探头组合、广泛的材料转换表,包括 Proceq 自己的研究和世界上广泛的标准转换。
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用户体验
通过强大的内置报告功能,以及完全可定制的视图、多个向导和材料选择助手,随时可用的报告。
Equotip 550 (platform only) 技术规格
仪器
技术规格
原始单位
HLx(x:D、DC、DL、S、E、G、C)

转换单位
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA (σ1, σ2, σ3)

可用探头
Leeb D / DC / DL / S / E / G / C

与其他方法结合
Portable Rockwell, UCI

平均粗糙度 Ra (µm / µinch)
7 / 275 (Leeb G)

最小质量 (kg / lbs)
0.02 / 0.045 (Leeb C)

最小厚度(毫米/英寸)
1 / 0.04 (Leeb C)

仪器固件#冲击方向自动补偿<br>个性化的用户资料和视图<br>自化动测试环境集成(包括远程控制) <br> 支持11种语言和不同时区<br>测量向导<br>自定义曲线向导<br>组合方法向导<br>用户指南功能<br>自定义报告功能

自定义转换曲线
支持单点偏移,2点偏移及多点偏移

PC 软件
Equotip Link 允许直接报告和自定义报告

显示
7" 彩色坚固型触摸屏单元(800 x 480 像素),带双核处理器

内存
内部 8 GB 闪存( > 1'000'000 次测量)

连接
USB 主机/设备和以太网

根据
ISO 16859、ASTM A 956、自定义方法、组合方法进行验证

测量范围
150 - 950 HL

防护等级
IP54,完全坚固,带有减震外壳

测量精度
± 4 HL (0.5% at 800 HL)

变异系数
± 4 HL (0.5% at 800 HL)
其他客户还购买了:
标准和指南

标准

  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM A 370
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM A 956
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ASTM E 140
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines DIN 50156
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines GB/T 17394
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ISO 16859
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines ISO 18265
  • Arrow, click names to download Standards & Guidelines JB/T 9378

指南

  • Arrow ASME CRTD-91
  • Arrow DGZfP Guideline MC 1
  • Arrow Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
  • Arrow VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
常见问题

选择合适的 Leeb 探头时哪些参数很重要?

被测件的最小质量
表面粗糙度的最低要求(及对应的时间)
示例可访问性
材料微观结构(较粗的晶粒最好用较高冲击能量的探头测量
压痕(凹痕)深度和直径


哪种 Leeb 探针的冲击能量最低?

探头类型 C,3 Nmm(探头 D 为 11 nmm),适用于表面处理材料或小物体,但必须满足标准和 Proceq 规定的要求。


Leeb 好用吗?

是的,非常简单并且具有很高的可重复性。一个例外是 DL 探针,它可能具有较高的惯性,因为它的冲击体较长且探针的底座不稳定。因此,已知该探针略微依赖于用户。


可以用 Leeb 调查小物体吗?

是的,但前提是它们遵循 Proceq 指定的要求。样品可以被测量为耦合和非耦合。

根据 Leeb 或...

查看更多

如何延长 UCI 探针的使用寿命?
  • 切勿用探针撞击表面,这可能会损坏金刚石尖端
  • 永远不要 在开始穿透后沿表面滑动探头,  它可能会损坏钻石尖端
  • 服务中心的定期服务和验证
  • 妥善存放设备,确保金刚石压头盖上盖子
  • 进行个人培训
  • 不要过度加载探头

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