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能够部分可达的情况下精确评估材料的厚度是很重要的,特别是在测量管道和压力容器的金属损耗时。看看哪些探头用于在不可达区域进行厚度测量和分层评估。
说明
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本应用案例描述了用于厚度测量和不可达区域进行分层评估。
很明显,能够从零件的单侧精准评估材料的厚度是非常重要的,特别是对于测量管道和压力容器的金属损耗来说。
超声波技术(本例的 UT8000 )为许多类型的材料和组件提供精确的缺陷检测,如果需要,甚至可以在高温下检测。
用于厚度测量和分层评估的探头是0°直探头,也称为纵波探头,它们通常是单晶或双晶探头。
当探头被用于粗糙和有凹痕的表面时,通常会选择双晶探头。常用于测量金属损失,例如,在炼油厂的时候。
还有一系列单晶探头,可用于更厚、更衰减的材料,通常用于更光滑的接触表面。
单晶探头有一个发射和接收晶片,该晶片非常靠探头的接触面。使用单晶探头进行厚度测量时比双晶探头更准确,但不那么适用于腐蚀测量。
用于金属损耗和分层检测的超声波探头的频率一般在 1MHz 到 20 Mhz 之间,低频探头用于检测粗晶材料,高频探头用于检测和测量薄材料。
TC10-5o(ML)
TC = 双晶
10 = 10 MM 直径
-5o = 5MHz 无屋顶角
(ML) = Mini Lemo (Lemo 00) 连接接口
caption
单晶软面探头示例
SCSF10-5(ML) SCSF = 单晶软面
10 = 10mm 晶片直径
-10 = 10MHz 频率
TC 探头的磨损面大约是许多同类竞争探头的两倍,在相同的测试条件下使用时使用寿命是其两倍。单晶探头提供高于行业标准分辨率的灵敏度。
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